Физические основы сканирующей зондовой микроскопии

Суханов Л.П.

21.04.17, Пятница, 18:35, МФТИ (ГУ), БХА

Базовый семинар: Методический межпредметный семинар

В докладе излагаются физические основы сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ) на примере её наиболее популярных в современных исследованиях поверхности твёрдого тела видов: атомно-силовой микроскопии (АСМ) (1986г.) и сканирующей туннельной микроскопии (СТМ) (1981г.). Будет дан ответ на вопрос, что такое сканирующая туннельная спектроскопия (СТС). Доклад иллюстрирован авторским участием в исследовании адсорбции молекул C60F18 на различных поверхностях твёрдого тела с помощью методов СЗМ.

 

Следующий семинар: 28.04.2017 - Путь ракетного стартапа (докладчик: Ильин А.М.).

Предыдущий семинар: 14.04.2017 - Наука и жизнь (докладчик: Арсеньев А.Р.).